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電子元件 2025/1/3 0:00:00

公司可針對芯片和元器件等提供可靠性測試、壽命評估、失效分析以及自主可控驗(yàn)證等服務(wù)，輔助企業(yè)和用戶開展質(zhì)量驗(yàn)證和供應(yīng)商篩選。

適用產(chǎn)品類型

■ 芯片

■ 元器件

檢測能力

環(huán)境試驗(yàn)

可開展各類型電子元件的氣候環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)、可靠性試驗(yàn)

規(guī)約試驗(yàn)

可開展芯片等電子元器件的國產(chǎn)化驗(yàn)證工作

檢測能力范圍

環(huán)境試驗(yàn)

GB/T 2423 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)系列標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 4208-2017 外殼防護(hù)等級

GB/T 29309-2012電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗(yàn)規(guī)程高加速壽命試驗(yàn)導(dǎo)則（含隨機(jī)振動）

GB/T 2689.1-1981 恒定應(yīng)力壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)方法總則

GB/T 2689.2-1981 壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的圖估計(jì)法（用于威布爾分布）

規(guī)約試驗(yàn)

ZHKP/FF-008-002-2024/0 電氣設(shè)備元器件供應(yīng)鏈可靠性及元器件可控率等級判定方法

業(yè)務(wù)咨詢

聯(lián)系人

陳新美

聯(lián)系電話

0756-3869069

聯(lián)系郵箱

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